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                IM3523 LCR测试仪

                更新时间:2019-03-26      点击次数:1282

                日本 IM3523 LCR测试仪
                日本 IM3523 LCR测试仪
                应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
                基本精度±0.05%,测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
                在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
                内置比较器和BIN功能
                2毫秒的快速测试时间

                日本 IM3523 LCR测试仪不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637,不需要硬件控制器。
                日本 IM3523 LCR测试仪技术参数;

                测量模式LCR,连续测试
                测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
                测量量程100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
                可显示量程Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
                ± (0.000000 [单位]* ~9.99999G [单位])(*为gao分辩率时的显示位数)
                 只有 Z和Y显示真有效值
                θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999)
                Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)
                基本精度Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
                测量频率40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)
                测量信号电平正常模式
                V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms
                CC模式: 10μA~50mArms,10μArms
                输出阻抗正常模式:100Ω
                显示单色LCD
                测量时间2ms(1kHz,FAST,代表值)
                功能比较器,分类测量(BIN功能),节点负载/补偿,记忆功能
                接口EXT I/O(处理器),USB通信(高速)
                选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一
                电源100~240V AC,50/60Hz,大50VA
                尺寸及重量260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
                附件电源线×1,操作手册×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1
                深圳市伟峰仪器仪表有限公司
                地址:深圳市宝安区沙井街道步涌社区新和大道129号-177号(单号)E1306
                邮箱:weifeng1718@163.com
                传真:86-0755-61605261
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