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                日本安立S331L天馈线测试仪

                更新时间:2019-05-24      点击次数:1619

                日本安立S331L天馈线测试仪
                 

                 

                 

                日本安立S331L天馈线测试仪技术指标:

                 

                ◆       频率范围: 2 MHz ~ 4 GHz

                ◆       频率精度: ≤± 5ppm @ +23°C±3°C

                ◆       频率分辨率: 1 kHz

                ◆       输出功率: +3 dBm

                ◆       抗干扰能力:位于信道 +17 dBm

                ◆       测量速度:回波损耗≤1.5ms/数据点;故障点定位:≤1.75ms/数据点。

                ◆       采样点: 130, 259, 517,1033

                ◆       校准方式:内置校准件,无需外部校准件校准。

                ◆       回波损耗: 范围: 0.00 ~ 60.00 dB

                ◆       回波损耗分辨率: 0.01 dB

                ◆       驻波比:范围:1.00 ~ 65.00

                ◆       驻波比分辨率: 0.01

                ◆       电缆损耗范围: 0.00 ~ 30.00 dB

                ◆       电缆损耗分辨率: 0.01 dB

                ◆       内置功率计: 频率50M~ 4GHz;测试范围:–33 dBm 到 +20 dBm;大功率:+27 dBm,

                 

                日本安立S331L天馈线测试仪通用指标

                 

                ◆       语言: 中文界面

                ◆       内部曲线存储: 可达1000条文件(文件可以是轨迹线,设置,屏幕截图,或任意组合)

                ◆       显示:7.0”触摸屏,分辨率800×480

                ◆       USB存储:3个USB接口

                ◆       输入和输出端口:

                RF 射频输出: N型, 阴性, 50 Ohm

                RF 反射输入: N型, 阴性, 50 Ohm

                功率计输入:N型, 阳性, 50 Ohm

                ◆       仪表应体积小,重量轻,便于携带,250 mm x 177 mm x 61 mm, < 2.0 kg , 包括电池。

                 

                日本安立S331L天馈线测试仪电源要求

                 

                ◆       12V 车载电源;

                ◆       220V 交流电源;

                ◆       锂-离子电池,电池供电时间应不小于8个小时;

                ◆       要求测试过程中,可对仪表充电,而不是靠仪表的电池供电;

                ◆       明确设备正常供电电流和电压工作范围。

                 

                日本安立S331L天馈线测试仪工作环境条件:

                 

                ◆       工作温度: -10℃ 至+55℃;

                ◆       工作湿度: ≤95%;

                ◆       储存温度: -40℃ ~ +70℃。

                 

                日本安立S331L天馈线测试仪应用范围

                 

                ◆       仪表能进行回波损耗,驻波比,单端口的差入损耗和故障位置定位的测试。

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