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                热门关键词：测厚仪，硬度计，粒子计数器，风速仪，测振仪，粗糙度仪，测温仪，转速表
                
        
                
        
                
        	
        
                
    
                

                




                
    
                
        
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                ST-20掌上型方块电阻测试仪
                
            
                更新时间：2020-05-21      点击次数：1040
                
            
                
                
                ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
                 
                ◆ 特点：
                1
                		 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定
                2
                		 低功耗
                3
                		 采用单个电池供电，带电池欠压指示
                4
                		 仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm
                5
                		 特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及?；け∧?/span>
                6
                		 探头带抗静电?？?/span>
                 
                ◆ 技术指标：
                 
                测量范围
                		基本量程：方块电阻10.0-199.9(Ω/口)
                扩展量程：方块电阻100-1999(Ω/口)
                测量不确定度
                		≤5%
                探针规格
                		 探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ
                恒流源
                		 测量过程误差：≤±0.8%
                电源
                		 9V叠层电池1节
                
            
                
            
            
                
                
            
                
            
        
                
    
                


                




                
    
                
        
                
            
                
                
                
                    
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                地址：深圳市宝安区沙井街道步涌社区新和大道129号-177号(单号)E1306
                
                    
                邮箱：weifeng1718@163.com
                
                    
                传真：86-0755-61605261
                
                
                
                
                
                    
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