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                QuaNix4200P分体式涂层测厚仪 -德国尼克斯
                简要描述:

                QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)更方便用户在台阶、狭小、拐角及凹槽等复杂区域测量,QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)零位稳定,无需校准,温度补偿,红宝石探头,*的直流采样技术

                • 产品型号:
                • 厂商性质:经销商
                • 更新时间:2025-06-08
                • 访  问  量:1989

                详细介绍

                QuaNix4200P分体式涂层测厚仪 

                QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)更方便用户在台阶、狭小、拐角及凹槽等复杂区域测量,QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)零位稳定,无需校准,温度补偿,红宝石探头,*的直流采样技术。

                QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)适合测量钢、铁等铁磁性(Fe)金属基体上的非磁性涂镀层的厚度,如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉等
                QuaNix4200P分体式涂层测厚仪技术参数:

                 

                QuaNix4200P
                测量范围
                QNIX4200P(分体型):Fe:0-3000um;NFe:0-3000um
                QNIX4200P5(分体型):Fe:0-5000um;NFe:0-5000um
                 
                显示精度
                0.1um
                精度
                0-50um:≤±1um
                50-1000um:≤±1.5%读数
                1000-3000um≤±3%读数
                zui小接触面
                10×10mm/QNix4500
                zui小曲率半径
                凸面:3mm;凹面:25mm
                zui小基体厚度
                Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
                温度补偿范围
                0-60℃
                显示
                LCD液晶(带背光)
                探头
                红宝石固定式
                电源
                2×1.5V干电池
                尺寸
                100×60×27mm
                重量
                110g

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